Qorvo——GaN 成功的十大秘诀
高性能氮化镓半导体技术已经开始进入基础设施、航空航天、国防和商用产品领域。Qorvo™致力于提供可靠的高性能器件,其专用GaN 技术成为高功率射频器件、功率放大器、晶体管、振荡器、开关等领域的先驱,为全球各地的大型企业解决面临的射频挑战。优质 GaN 供应商有哪些特点?继续阅读,了解更多。
非线性模型、电磁有限元建模以及稳定性和环路稳定性分析有助于在高功率 MMIC 的设计中实现最佳功率和效率。Qorvo稳健的设计方法可提高首次成功率,增强设计的可靠性。
行业标准允许对较小的 GaN 产品样本进行测试。虽然这样做往往就够了,但是,Qorvo 在全面测定产品故障模式特性时,在超长时间内,在目标温度范围内,对较大的样本总体进行了测试。
MTTF 评估的是一个器件的寿命周期。供应商应至少在三个温度下对器件可靠性进行测量,因为较高的温度会导致器件寿命缩短。Qorvo的所有 GaN 产品在 200°C 条件下的平均无故障时间均超过 107 小时。
有些供应商要求在交付前进行预调理或老化测试,并由此延长时间、提高成本。Qorvo 的 GaN 解决方案在性能、可靠性和制造良品率数据等方面都已达到很高的成熟度,产品无需预调理即可发货,每一次都能满怀自信地为客户带来高质量的性能。
红外显微镜等低分辨率技术低估了产品的预期寿命和峰值结温。Qorvo 的热模型和有限元分析结果都经过微拉曼光谱测量验证,可以更加准确地预测温度和器件寿命。
一个常见的参数失效标准是 Imax 下降 20%。Qorvo 把 Imax参数失效设为下降 10%,确保在器件的寿命周期内,功率性能降幅不超过 1dB。
可靠性也通过灾难性故障率或淘汰率来衡量。在 200°C 条件下,每 100 万小时,不到 0.002% 的Qorvo GaN 器件会发生灾难性故障。另外,要注意预期运行寿命 T1、T5 和 T10,分别表示,基于较大的器件样本总体数据,分别有 1%、5% 和10% 的器件会发生故障。
您的 GaN 供应商的产品有现场可靠性证明吗?Qorvo 的现场 GaN 功率放大器累积超过65,800,000 器件-小时数据,每百万器件-小时的现场故障率不到 0.013%。
选择能承受高加速应力测试 (HAST) 的器件,此项测试在 105°C、85% 相对湿度且大气压不超过 4atm 的条件下对器件性能进行 96 小时的测量。THB 合规也是一项关键指标。
美国国防部用 MRL 来衡量供应商把产品顺利地从工厂转移到现场的能力,涉及运营成熟度、技术发展水平以及质量和制造管理。Qorvo是达到 MRL 9 级的首家 GaN 供应商。
Qorvo作为在业界享有很高的声誉的功频放大器供货商之一,在可穿戴的诸多产品中都得到了广泛应用,并以其卓越的性能和可靠性获得了客户的高度认可。Qorvo凭借其深厚的技术积累和创新精神,一直在推动可穿戴设备市场的发展,为消费者带来更加智能、便捷的生活体验。
热设计是一个至关重要的课题,其中的各种规则、缩略语和复杂方程时常让人感到它似乎是个深不可测的神秘领域;但其对于集成电路设计的意义却不容忽视——毕竟,温度是导致大多数半导体在现实应用中失效的最大环境因素。元件的预期寿命会随着温度的每一度升高而缩短。
受消费电子、新能源汽车、电动工具、电动两轮车等应用端需求持续旺盛,锂电池应用已经进入人们生活的方方面面。同时,随着低碳可持续发展的逐步推进,光伏储能市场持续扩大,电动船舶、电动飞行器等新兴应用领域逐渐发展,继而带动锂电池产业规模不断扩大。
『这个知识不太冷』系列,旨在帮助小伙伴们唤醒知识的记忆,将挑选一部分Qorvo划重点的知识点,结合产业现状解读,以此温故知新、查漏补缺。本篇将介绍物联网(IoT)的一些基础知识及其应用、主要市场趋势和一些重要的物联网技术。还为大家展示这些标准如何使用,以及市场如何转向更高的互操作性。
在本节中,我们来简要介绍一下UWB的系统组件,以及硬件和软件选择如何影响系统的性能。