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华为技术内部射频可测试性设计规范

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发表于 2016-6-12 13:24:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
华为技术内部射频可测试性设计规范
规范规定了RF单板ICT DFT设计方法和FT DFT设计方法,适用在RF单板方案设计阶段,PCB布局阶段和ICT软件编程阶段。
QQ截图20160612132530.jpg

华为射频可测试性设计规范.pdf

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谢谢分享啊
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重要参考资料,感谢分享!
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