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【PA MMIC】射频功放(PA)高级测试解决方案

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发表于 2014-12-19 17:28:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
本射频功放(PA)高级测试解决方案包括数字预失真、包络跟踪、自动表征和生产测试等方面的解决方案。LTE Advanced和802.11ac等越来越多的无线标准需要与包络跟踪(ET)和预失真(DPD)等RF功率放大器(PA)技术相结合,为此为当今的工程师带来新的测试挑战。为从初始产品设计到生产测试等各个阶段的PA测试提供了全面的解决方案。

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3.jpg

更多资料,请下载:
为PA MMIC设计考虑的射频_微波EDA软件设计流程.pdf (1.99 MB, 下载次数: 387)
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发表于 2014-12-20 12:59:00 | 显示全部楼层
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发表于 2014-12-26 23:37:45 | 显示全部楼层
这是一篇AWR 原版的功放设计的文献,谢谢分享。
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