安捷伦将于IEEE国际微波研讨会展示25款最新设计和测量方案

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安捷伦科技(Agilent)将于6月2日至7日在美国西雅图举办的IEEE MTT-S国际微波研讨会中,展示旗下二十五款最新的设计和测量解决方案。同时,Agilent X系列信号分析仪之硬件控制软件首席架构师Gordon Strachan,也将于6月5日上午11点10分,在MicroApps馆发表演讲,主题为《现代射频测量以及它们如何推动频谱分析仪数字中频处理器的发展与设计》。

此次安捷伦将展出从电路级建模到系统验证等各式解决方案,为一般射频、微波、4G通信,以及航天/国防应用,提供最全面的测量支持。主要展示产品包括设计软件Agilent EEsof EDA 解决方案,可协助工程师克服重大的RFIC设计挑战。这些解决方案包括ADS 2013,支持多种技术(Multi Technology)和电热(Electro- thermal)测量;EMPro,具有多项整合入ADS设计平台的3-D EM模拟技术;以及SystemVue 2013,具备适用于卫星通信/全球卫星导航系统(GNSS)、雷达、4G/MSR、DPD和FPGA硬件回路的设计专用软件。

网络分析--安捷伦测试解决方案让工程师透过单一链接,即可同时连接多个HDMI和WiGig组件,以便加速进行测量。该毫米波解决方案采用PNA-X网络分析仪,可通过一个链路连接待测组件,以便描述发射/接收系统的特性。

Agilent FieldFox手持式分析仪提供远程式控制功能和新的Remote Viewer iOS应用程序,方便用户透过iPad或iPhone进行精确的射频和微波测量。此外,为协助工程师有效测试雷达系统之脉冲特性,FieldFox特别新增了频谱分析时闸(Time-gating)选项,以及USB峰值功率传感器支持。

Agilent 8507xE.07系列软件可以轻易测量电磁材料的特性。新的直觉式操作接口增加了更多条轨迹、多个图表、先进的轨迹数学运算和标记功能,让用户能以前所未见的简易方式,分析大量的数据。
 

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