高性能GaN热评估 - 红外显微镜的局限性

更新时间 2018-04-24

标签:QorvoGaN

本文讨论了红外显微镜用于测量高性能微波GaN HEMT器件和MMIC时的局限性。它还将介绍Qorvo的综合方法: 热分析利用建模,经验测量(包括微拉曼 热成像)和有限元分析(FEA)。

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