更新时间 2020-04-27
本白皮书旨在探讨红外显微镜用于测量高性能微波 GaN HEMT 器件和 MMIC 时的限制。此外，本白皮书还将描述 Qorvo 采用建模、实证测量（包括微型拉曼热成像）和有限元分析 (FEA) 的综合热分析方法。该方法极为有效，且经过实证检验。通过确认红外显微镜的限制，可实现比采用较低功率密度 技术开发的传统方法更精确的预测和测量。
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| 中文文档 | qorvo-high-performance-gan-thermal-evaluation-infrared-microscopy-limitations | 804.69KB | 268 |
