您是否正在尝试确定您的设计是否安全,不会受随机硬件故障的影响,并且想要弄清一些安全指标,如单点故障指标 (SPFM)、潜在故障指标 (LFM) 和硬件失效概率指标 (PMHF)?如果是,您无疑需要同时权衡瞬态故障和永久故障。现实情况是,它们都需要被分析,在此基础上,我们发现两者之间存在相当多的差异。
本篇白皮书重点介绍数字电路永久故障和瞬态故障之间的根本区别,以及这种区别在ISO 26262:2018 功能安全标准背景下的重要意义。
集成电路中故障的来源多种多样:电磁干扰 (EMI)、辐射、电迁移、冲击、振动,等等。在某些情况下,了解具体的故障源非常重要,以方便采取针对性的措施。这时,合理的做法通常是将它们抽象为位翻转(瞬态)和固定故障(永久)。重要的是,这种抽象是 ISO 26262 标准所允许的。

▲永久故障与瞬态故障的比较
按故障的持续时问可将故障分为永久故障、瞬时故障和间歇故障。. 永久故障由 元器件 的不可逆变化所引发,其永久地改变元器件的原有逻辑.直到采取措施消除故障为止;瞬时故障的持续时间不超过一个指定的值.并f1只引起元器件当前参数值的变化,而不会导致不可逆的变化;间歇故障是可重复出现的故障,主要由元件参数的变化、不正确的设计和工艺方面的原因所引发。
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