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Qorvo| GaN 成功的十大秘诀

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发表于 2015-11-26 10:04:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
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高性能氮化镓半导体技术已经开始进入基础设施、航空航天、国防和商用产品领域。Qorvo™致力于提供可靠的高性能器件,其专用GaN 技术成为高功率射频器件、功率放大器、晶体管、振荡器、开关等领域的先驱,为全球各地的大型企业解决面临的射频挑战。优质 GaN 供应商有哪些特点?继续阅读,了解更多。

1   有效的设计工具
非线性模型、电磁有限元建模以及稳定性和环路稳定性分析有助于在高功率 MMIC 的设计中实现最佳功率和效率。Qorvo稳健的设计方法可提高首次成功率,增强设计的可靠性。

2   可靠的总体测试
行业标准允许对较小的 GaN 产品样本进行测试。虽然这样做往往就够了,但是,Qorvo 在全面测定产品故障模式特性时,在超长时间内,在目标温度范围内,对较大的样本总体进行了测试。

3   高平均无故障时间 (MTTF)
MTTF 评估的是一个器件的寿命周期。供应商应至少在三个温度下对器件可靠性进行测量,因为较高的温度会导致器件寿命缩短。Qorvo的所有 GaN 产品在 200°C 条件下的平均无故障时间均超过 107 小时。

4   无需预调理
有些供应商要求在交付前进行预调理或老化测试,并由此延长时间、提高成本。Qorvo 的 GaN 解决方案在性能、可靠性和制造良品率数据等方面都已达到很高的成熟度,产品无需预调理即可发货,每一次都能满怀自信地为客户带来高质量的性能。

5   结温特性
红外显微镜等低分辨率技术低估了产品的预期寿命和峰值结温。Qorvo 的热模型和有限元分析结果都经过微拉曼光谱测量验证,可以更加准确地预测温度和器件寿命。

6   精确的失效标准
一个常见的参数失效标准是 Imax 下降 20%。Qorvo 把 Imax参数失效设为下降 10%,确保在器件的寿命周期内,功率性能降幅不超过 1dB。

7   低淘汰率
可靠性也通过灾难性故障率或淘汰率来衡量。在 200°C 条件下,每 100 万小时,不到 0.002% 的Qorvo GaN 器件会发生灾难性故障。另外,要注意预期运行寿命 T1、T5 和 T10,分别表示,基于较大的器件样本总体数据,分别有 1%、5% 和10% 的器件会发生故障。

8   历经检验的现场性能
您的 GaN 供应商的产品有现场可靠性证明吗?Qorvo 的现场 GaN 功率放大器累积超过65,800,000 器件-小时数据,每百万器件-小时的现场故障率不到 0.013%。

9   对环境压力的高耐受性
选择能承受高加速应力测试 (HAST) 的器件,此项测试在 105°C、85% 相对湿度且大气压不超过 4atm 的条件下对器件性能进行 96 小时的测量。THB 合规也是一项关键指标。

10  制造成熟度
美国国防部用 MRL 来衡量供应商把产品顺利地从工厂转移到现场的能力,涉及运营成熟度、技术发展水平以及质量和制造管理。Qorvo是达到 MRL 9 级的首家 GaN 供应商。


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