想学习半导体如何进行可靠性检验吗？想知晓未来Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的技术趋势吗？想听听关于可靠性检验的奇闻趣事吗？想一睹国外技术大神的演讲风采吗？机会来了！Qorvo公司的高级研究员Bill Roesch将给深圳的工程师们带来一场关于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体（包括GaAS与GaN）的Workshop，感兴趣的你千万不要错过哟！
主题：Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的技术趋势和可靠性检验
时间：2016年8月29日 13：30-16：00
地址：深圳市南山区高新技术产业园粤兴一道9号，香港科技大学产学研大楼
讲师：Bill Roesch
Qorvo公司高级研究员（Senior Fellow） 担任复合半导体可靠性研究会（ Compound Semiconductor Reliability Workshop）执委会委员长达31年 自1998年以来，固态技术协会（JEDEC）砷化镓的可靠性与质量标准委员会（JC-14.7）的活跃成员，1988-1998期间担任该小组（JC-14.7）及其前身（JC-50）的主席 现任电气和电子工程师协会（IEEE）与该协会下可靠性协会（IEEE Reliability Society）成员 发现并提出引起GaAS氢降解的实际失效机制 拥有“检测空隙的加热器设计”、“基板通孔裂纹探测器”等专利
千万别被Bill大神闪闪发光的履历吓到，而觉得他高不可攀哦，其实他幽默又有趣。他在Linkin上如此评论自己的工作：始终工作在我最喜爱的消遣项目上——搞破坏。引用一句现代航天之父韦纳·冯·布劳恩的话来说，“当我不知道自己在做什么时，我就是在搞研究”。
怎样，是不是被Bill大神的笑容吸引到了？小编偷偷八卦下，传说Bill大神在美国开讲座的入场费，将近10K美刀哦——深圳的工程师们有福了，本次讲座竟然完全免费！欲一睹大神风采，了解元器件检验的技术趋势，请扫描下方二维码，或点击“阅读原文”报名本次讲座。
更多精彩内容请关注Qorvo官方微信：
集字活动图片2
| 
/2 
发表于 2016-8-19 16:54:37
