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关于PA输出驻波测试原理

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发表于 2013-5-22 15:51:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
[img]http:///file:///C:UsersAdministratorAppDataRoamingTencentUsers2220669198QQWinTempRichOleH3[R02YU~QV_6RK3E{OM@P9.jpg[/img]ADS学习:关于PA输出驻波测试,我看到《微波工程》里面谈到了,原理图在附件中,有一个不理解的点事,感觉回波损耗就是方向性D,这个我们测试原理不懂。
H3[R02YU~QV_6RK3E{OM@P9.jpg
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发表于 2013-5-25 14:22:41 | 显示全部楼层

RE:关于PA输出驻波测试原理

我来解释楼主的疑问,你的问题在于错误理解了方向性,你把2个情况下发生的耦合的两个方向性混到一起了,所以理解为回拨损耗就是方向性D了。
先说方向性的定义,在输入一个信号Pin,耦合度为C,耦合口功率为Pin-C,在隔离口由于奇偶模信号没有完全抵消,隔离口输出功率为Pin-C-D.
我分情况来说明,假设耦合度为C方向性为D,输入功率Pin ,反射功率Pre。
第一种情况,正向耦合口功率为Pin-C,此时对于正向的隔离口的功率为Pin-C-D
第二种情况,反向耦合口功率为Pre-C(对应正向的隔离口),反向隔离口的功率为Pre-C-D(对应正向的耦合口)
所以在耦合的耦合口和隔离口,分别存在2个功率,一个口有正向耦合功率、反向隔离功率,另一口有反向耦合功率,正向隔离功率
回拨损耗的定义为Pre-Pin=反向耦合口功率+C-(正向耦合口功率+C)=反向耦合口功-正向耦合口功率,楼主就理解为方向性了,但是此时正向和反向耦合是2个过程,分别是从两个端口进入信号的,方向性是对应于一个信号,一个过程而言的。
说的很细啦,希望楼主理解了
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发表于 2013-8-19 10:44:50 | 显示全部楼层

回复:关于PA输出驻波测试原理

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