想学习半导体如何进行可靠性检验吗?想知晓未来Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的技术趋势吗?想听听关于可靠性检验的奇闻趣事吗?想一睹国外技术大神的演讲风采吗?机会来了!Qorvo公司的高级研究员Bill Roesch将给深圳的工程师们带来一场关于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体(包括GaAS与GaN)的Workshop,感兴趣的你千万不要错过哟!
主题:Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的技术趋势和可靠性检验
时间:2016年8月29日 13:30-16:00
地址:深圳市南山区高新技术产业园粤兴一道9号,香港科技大学产学研大楼
讲师:Bill Roesch
Qorvo公司高级研究员(Senior Fellow) 担任复合半导体可靠性研究会( Compound Semiconductor Reliability Workshop)执委会委员长达31年 自1998年以来,固态技术协会(JEDEC)砷化镓的可靠性与质量标准委员会(JC-14.7)的活跃成员,1988-1998期间担任该小组(JC-14.7)及其前身(JC-50)的主席 现任电气和电子工程师协会(IEEE)与该协会下可靠性协会(IEEE Reliability Society)成员 发现并提出引起GaAS氢降解的实际失效机制 拥有“检测空隙的加热器设计”、“基板通孔裂纹探测器”等专利
千万别被Bill大神闪闪发光的履历吓到,而觉得他高不可攀哦,其实他幽默又有趣。他在Linkin上如此评论自己的工作:始终工作在我最喜爱的消遣项目上——搞破坏。引用一句现代航天之父韦纳·冯·布劳恩的话来说,“当我不知道自己在做什么时,我就是在搞研究”。
怎样,是不是被Bill大神的笑容吸引到了?小编偷偷八卦下,传说Bill大神在美国开讲座的入场费,将近10K美刀哦——深圳的工程师们有福了,本次讲座竟然完全免费!欲一睹大神风采,了解元器件检验的技术趋势,请扫描下方二维码,或点击“阅读原文”报名本次讲座。
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